SN/T 2004.4-2006 电子电气产品中铅、镉、铬、汞的测定 笫4部分：电感耦合等离子体原子发射光谱法
作者:标准资料网 时间:2024-05-15 21:53:43 浏览:8671
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基本信息
| 标准名称： | 电子电气产品中铅、镉、铬、汞的测定 笫4部分：电感耦合等离子体原子发射光谱法 |
| 英文名称： | Determination of Lead Cadmium Chromiun and Mercury in electrical and electronic equipment--Part 4: Inductively coupled plasma atomic emission spectrometric method |
| 中标分类： | 电子元器件与信息技术 >> 电子元器件与信息技术综合 >> 基础标准与通用方法 |
| ICS分类： | 电子学 >> 电子元件综合 |
| 发布部门： | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 |
| 发布日期： | 2006-04-25 |
| 实施日期： | 2006-11-15 |
| 首发日期： | |
| 作废日期： | |
| 提出单位： | 国家认证认可监督管理委员会 |
| 归口单位： | 国家认证认可监督管理委员会 |
| 起草单位： | 中华人民共和国广东出入境检验检疫局 |
| 起草人： | 钟志光、刘祟华、张海峰、刘志红、缪俊文等 |
| 出版日期： | 2006-10-15 |
| 页数： | 12页 |
适用范围
本部分规定了电感耦合等离子体原子发射光谱法（ICP-AES）测定电子电气产品聚四氟乙烯除外）、金属材料、电子元器件中铅（Pb)、铬（Cr）和泵（Hg）的方法。
前言
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目录
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引用标准
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所属分类： 电子元器件与信息技术 电子元器件与信息技术综合 基础标准与通用方法 电子学 电子元件综合
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