BS EN 60749-7-2002 半导体器件.机械和气候试验方法.其他残余气体的内部湿气含量的测量和分析

作者:标准资料网 时间:2024-05-03 08:51:15  浏览:9304   来源:标准资料网

【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Internalmoisturecontentmeasurementandtheanalysisofotherresidualgases
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.其他残余气体的内部湿气含量的测量和分析
【标准号】:BSEN60749-7-2002
【标准状态】:作废
【国别】:英国
【发布日期】:2002-08-30
【实施或试行日期】:2002-08-30
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:残余气体;含水量;电子工程;试验;电气工程;气候试验;组件;机械试验;半导体;电子设备及元件;气候;环境试验;电学测量;集成电路;半导体器件
【英文主题词】:Climate;Climatictests;Components;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environmentaltesting;Integratedcircuits;Mechanicaltesting;Moisturecontents;Residualgas;Semiconductordevices;Semiconductors;Testing
【摘要】:ThepurposeofthispartofIEC60749istotestandmeasurethewatervapourandothergascontentoftheatmosphereinsideametalorceramichermeticallysealeddevice.Itisapplicabletosemiconductordevicessealedinsuchamannerbutgenerallyonlyusedforhighreliabilityapplicationssuchasmilitaryoraerospace.Itcanbedestructive(Methods1and2)ornon-destructive(Method3).
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:12P.;A4
【正文语种】:英语